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E3-3D三维定位镀层测厚分析仪器的详细资料

品牌自营品牌产地类别国产
类型其他应用领域化工,石油,地矿,电子,交通

E3-3D三维定位镀层测厚分析仪器是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到*的测试效果。

E3-3D三维定位镀层测厚分析仪器产品特点:

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

● 辐射标志警示          

● 仪器经第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》

硬件技术

● X射线下照式,激光对焦可调样品仓,对于异形不平整样品,无需拆分打磨,可直接测试

● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率

● zui小光斑0.2mm,可针对各种样品中的小测试点*定位,避免材质干扰,测量结果更准确

● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计

● 电路系统符合EMC、FCC测试标准

软件技术

● 分析元素:Na~U之间元素

● 分析时间:90秒

● 界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作

● 数据一键备份,一键还原、一键清理功能,保护用户数据安全

● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度

● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。

 

产品规格:

●外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

●样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

●仪器重量:50kg

●供电电源:AC220V/ 50Hz

●zui大功率:330W

●工作温度:15-30℃

●相对湿度:≤85%,不结露

 

配件配置:

探测器

● 类型:X123探测器(*高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● *分辨率:145eV

●信号处理系统:DP5

X射线管

●电压:0-50v

●zui大电流;2mA

●zui大功率:50W

●靶材:Mo

●Be窗厚度:0.2mm

●使用寿命:大于2w小时

高压电源

●输出电压:0-50Kv

●灯丝电流0-2mA

●zui大功率:50w

●纹波系数:0.1%(p-p值)

●8小时稳定性:0.05%

摄像头

●焦距:微焦距

●驱动:免驱动

●像素:500万像素

准直器、滤光片

●系统:快拆卸准直器、滤光片系统

●材质:多种材质准直器

●光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选

十字激光头

●光斑形状:十字线

●输出波长:红光650nm

●光学透镜:玻璃透镜

●尺寸:Φ10×30mm

●发散角度:0.1-2mrad

●工作电压:DC 5V

●输出功率:<5mW

●工作温度:-10~50℃

其它配件

●开关电源:进口高性能开关电源

●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇

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